新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著
シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 早稲田大学出版部 |
| 出版年 | 1991.4 |
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| 配置場所 | 巻次等 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 板橋B2 書庫和書書架 |
|
371.7/TA68 | 0138336 |
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4657914162 | |||
| 狭山 書庫和書書架 |
|
371.7/TA68 | 4069284 |
|
4657914162 |
書誌詳細を非表示
| 本文言語 | 日本語 |
|---|---|
| 大きさ | xvii, 313p : 挿図 ; 22cm |
| 別書名 | 異なりアクセスタイトル:新テスト理論 : 教育情報の構造分析 |
| 一般注記 | 参考文献: p301-309 |
| 著者標目 | *竹谷, 誠(1941-) <タケヤ, マコト> |
| 件 名 | BSH:教育評価 |
| 分 類 | NDC8:371.7 NDC7:371.8 NDLC:FC63 |
| ISBN | 4657914162 |
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