Electron microscopy and analysis / Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 版 | 3rd ed |
| 出版者 | London ; New York : Taylor & Francis |
| 出版年 | 2001 |
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| 配置場所 | 巻次等 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 狭山 板橋B2保管 | pbk. : alk. paper | 549.97/G65 | 4086693 |
|
0748409688 |
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| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 大きさ | [xi], 251 p. : ill. ; 24 cm |
| 一般注記 | Includes bibliographical references p. [236]-237 |
| 著者標目 | *Goodhew, Peter J. Humphreys, F. J. Beanland, R. |
| 件 名 | LCSH:Electron microscopy |
| 分 類 | LCC:QH212.E4 LCC:DC21:502/.8/25 |
| ISBN | 0748409688 |
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