このページのリンク

何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ

データ種別 図書
出版者 京都 : ナカニシヤ出版
出版年 2023.3

所蔵情報を非表示

板橋2F 一般書架
371.7/G36 0389132
9784779517044

書誌詳細を非表示

本文言語 日本語
大きさ viii, 223p ; 21cm
別書名 原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education
著者標目  Gergen, Kenneth J.
 Gill, Scherto R.
 東村, 知子 <ヒガシムラ, トモコ>
 鮫島, 輝美 <サメシマ, テルミ>
件 名 BSH:教育評価
NDLSH:教育評価
分 類 NDC9:371.7
NDC10:371.7
NDLC:FC63
ISBN 9784779517044
目次/あらすじ

 類似資料