CiNii Booksを検索します。
NDLサーチを検索します。
本学の蔵書を検索した結果です。電子媒体は詳細画面から外部へリンクする事が可能です。
検索キーワード:(標準分類: DC21:502/.8/25)
該当件数:1件
Electron microscopy and analysis / Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland
pbk. : alk. paper. - 3rd ed. - London ; New York : Taylor & Francis , 2001
図書